HYX-3微型机x射线荧光仪通过技术鉴定

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1986, Vol. 10

Issue (2): 114-114

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HYX-3微型机x射线荧光仪通过技术鉴定

雷其墙

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摘要

成都地质学院、重庆地质仪器厂共同研制的HYX－3微型机x射线荧光仪,于1985年12月13日在重庆通过技术鉴定。

关键词 ： grapher, 自动绘图, 剖面平面图

Key words： Grapher automation mapping profile map

出版日期: 1986-04-24

引用本文:

雷其墙. HYX-3微型机x射线荧光仪通过技术鉴定[J]. 物探与化探, 1986, 10(2): 114-114.

链接本文:

https://www.wutanyuhuatan.com/CN/Y1986/V10/I2/114

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