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物探与化探  2009, Vol. 33 Issue (1): 46-48    
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直流激发极化法中的视电阻率参数及二次场采样
赵聚林,薛斌义,冯军,何海军
  甘肃省地质调查院,甘肃 兰州730000
THE APPARENT RESISTIVITY PARAMETERS IN DIRECT CURRENT IP METHOD
AND THE SECONDARY ELECTRIC FIELD SAMPLING
 ZHAO Ju-Lin, XUE Bin-Yi, FENG Jun, HE Hai-Jun
Gansu Institute of Geological Survey, Lanzhou730000, China
全文: PDF(532 KB)  
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 

目前的直流激发极化法仪器,一次场采集于供电方波的末端时间,包含了被激发形成的二次场,在高极化率地质体上,仪器反映的视电阻率将削弱其低阻特性或放大高阻特性。以甘肃北山地区某铜铁矿测量为例,说明在野外工作中,做适当的数据处理,可降低这种影响。

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Abstract

In the direct current IP instrument used at present, the terminal time of the power supply square wave of the primary electric field sampling contains the secondary electric field formed by induction. In the high polarizability geological body, the apparent resistivity reflected by the instrument will weaken its low resistivity or enlarge its high resistivity characteristics. In field work, therefore, proper dataprocessing should be conducted so as to reduce such influence.

收稿日期: 2007-08-07      出版日期: 2009-01-15
: 

P631

 
通讯作者: 赵聚林(1962- ),男,甘肃康县人。1988年毕业于成都地质学院地球物理勘查专业,高级物探工程师。从事地球物理勘查多年,发表论文10余篇。
引用本文:   
赵聚林, 薛斌义, 冯军, 何海军. 直流激发极化法中的视电阻率参数及二次场采样[J]. 物探与化探, 2009, 33(1): 46-48.
ZHAO Ju-Lin, XUE Bin-Yi, FENG Jun, HE Hai-Jun. THE APPARENT RESISTIVITY PARAMETERS IN DIRECT CURRENT IP METHOD
AND THE SECONDARY ELECTRIC FIELD SAMPLING. Geophysical and Geochemical Exploration, 2009, 33(1): 46-48.
链接本文:  
https://www.wutanyuhuatan.com/CN/      或      https://www.wutanyuhuatan.com/CN/Y2009/V33/I1/46
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