X射线荧光光谱岩心扫描影响因素及校正方法的研究进展

黄平安, 王夏青, 唐湘玲, 王玉堂, 李玮, 罗增, 吕飞亚

Research progress in the influencing factors and correction methods of XRF-CS

HUANG Ping-An, WANG Xia-Qing, TANG Xiang-Ling, WANG Yu-Tang, LI Wei, LUO Zeng, Lyu Fei-Ya

表1 Itrax XRF-CS和传统WD-XRF比较[13]

Table 1 Comparison between Itrax XRF-CS and traditional WD-XRF[13]

参数 Itrax XRF-CS WD-XRF 仪器要求 三相电源、液态水 冷却 一相或三相电源、 液态水冷却 X-ray光管 Mo、Cr、Cu Rh 高分辨率X光照相 是 否 高精度光学图像 是 否 X光照相分辨率 ≥0.1mm 否 可添加传感器 是 否 X光照相和光学图像 的获取时间# 0.5h 否 样品处理和准备 要求 无损坏、平坦和光 滑的表面,并覆盖 4μm聚乙烯薄膜 分离样品烘干、研 磨、压片或融化, 约需5g左右 真空系统要求 可选 是 对挥发或研磨样品 的He气系统要求 否 是 样品扫描分辨率 ≥0.02mm ≥5mm 测量元素 Al-U Na-U 获取数据所需时间 (K、Ca、Fe) 2h# 10个工作日§ 获取数据所需时间 (Si、Al、K、Ca、Ti、 Fe、Mn、Zn、Sr、Zr) 15h# 10个工作日§ 获取数据所需时间 (Si、Al、S、Cl、K、Ca、 Fe、As、Pb、Zn、Br、 Rb、Sr、Zr) 48h# 10个工作日§ 分析数据质量 较好 高精度